请问低反仪都是可以做什么?更适合于哪种测量情况?
下面是我以前的一个疑问。有人给我指点说用低反仪可以做。“由于市场上没有双面抛光的Si基片,所以只有在一面抛光的Si基片上镀制光学薄膜,但是我又想测试薄膜的透射率,单面抛光的Si片由于散射很严重,所以透射很小,肯定得不到薄膜的真实透射率.
我该采用什么办法获得薄膜的透射率.”
请问低反仪都是可以做什么?更适合于哪种情况?
谢谢
请问低反仪都是可以做什么?更适合于哪种测量情况?
用于测量镀有增透膜的单一表面的剩余反射率啊! :em22:
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