刘建
发表于 2004-5-14 00:18:00
赞同12楼所言，干涉仪可以测粗糙度，不可测光洁度。至于面形球面样板、平面样板、干涉仪都可测。光洁度用放大镜或显微镜看，有标准的光洁度比较样块来比较判别。
zeoch
发表于 2004-5-21 01:41:00
<P>谢谢楼上各位！</P><P>对于球面和平面用干涉仪好像可以检测，但是对于非球面不行吧？</P><P>我们这儿有用轮廓仪检测非球面的，但系统误差有点儿大，不知道哪位能否指教？</P>
zeoch
发表于 2004-7-10 21:55:00
<FONT size=1>大家对轮廓仪都没兴趣吗？</FONT>
jackonlee
发表于 2004-7-10 22:24:00
<P>有兴趣！</P><P>可是没有仪器，还是0不懂</P>
fengxg1974
发表于 2004-8-4 00:44:00
非球面也可用干涉仪来测。
ds1234567
发表于 2004-8-15 01:40:00
"光洁度一般采用放大镜用眼观察" 这里所说的<FONT color=#1111ee>光洁度</FONT>是指 <FONT color=#1111ee>光学零件表面疵病 </FONT><FONT color=#000000>吗?如果是,那末,用干涉仪扫描之后,在屏蔽面板选项上,仅圈选上疵病附近,然后测量,分析 pv 波峰波谷深度是多少个波长.分析疵病占多少个像素;粗糙度是粗磨,精磨的等级的毛面由于不能产生所以不行.若粗糙度达到亚光的以上,还行.超光滑也不行,像素少分辨不了那么细微.</FONT>