自动偏光解析系统
万能偏光光源在光源的后方设置偏光操作光学系统，可输出任意偏光状态的光束。可选择直线偏光，圆偏光，椭圆偏光以及长短轴比例，转动方向等。可用计算机动态控制。便于评估具有偏光依存性的样品，或在光路后部进行偏光补偿。http://www.global-optosigma.com/cn/images/application/apas_img01.jpg
偏光测定装置
计测和解析入射光束偏光状态的装置。可求入射偏光的斯托克斯参数S0～S3。http://www.global-optosigma.com/cn/images/application/apas_img02.jpg
样品特性测定装置
任意偏光光源，样品保持机构，偏光测定装置的组合，可完成样品的特性的测定。可构建透过型或反射型。反射型即可测偏光特性，也可用作椭圆偏振光法（Elipsometry）。内部应变检查装置
可观测纹理，加工应变等，样品内部的应变的装置。可把内部应变的分布和变化录像。http://www.global-optosigma.com/cn/images/application/apas_img04.jpg
应用例
承接生产设备或测定装置，专用装置的开发制造主要部件选用样本上的标准产品，既经济，又容易保证质量和性能。
只需添置一些配合专用设备的零部件就可完成开发，效率高，容易实现个性化研发。圆偏光测定装载
采用立式透过光学系统的偏光光学件特性评价系统只需把被测样品放置到台架上就可完成测定。可测定分光相位差，偏光分光特性，透过偏光比等。http://www.global-optosigma.com/cn/images/application/apas_img05.jpg
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