zphhappy2002 发表于 2005-3-25 20:27:00

薄膜测试仪器

现向大家推荐美国SCI公司的薄膜测试仪器,本公司的测试器广泛应用于半导体,光电子,数据存储,显示器,MEMS等工业领域.

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<B>Measurement Features
<p></B>
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<B>测量特征</B><B>
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<p><B>FilmTek™ 1000
<p></B>
<p><B>FilmTek™ 1500
<p></B>
<p><B>FilmTek™ 2000
<p></B>
<p><B>FilmTek™ 3000
<p></B>
<p><B>FilmTek™ 2000SE
<p></B>
<p><B>FilmTek™ 4000
<p></B>
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<P>Index of Refraction折射指数
(at 2&micro;m thickness)
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<p>±0.005
<p>
<p>±0.005
<p>
<p>±0.002
<p>
<p>±0.002
<p>
<p>±0.0002
<p>
<p>±0.00002
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<P>Thickness Measurement Range
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<P>厚度测量范围
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<p>10nm-150mm
<p>
<p>10nm-150mm
<p>
<p>5nm-150mm
<p>
<p>5nm-150mm
<p>
<p>1&Aring;-150mm
<p>
<p>3nm-350mm
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<P>Maximum Spectral Range
<p>
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<P>最大光谱范围
<p>
<p>380-1000nm
<p>
<p>380-1000nm
<p>
<p>190-1700nm
<p>
<p>190-1700nm
<p>
<p>190-1700nm
<p>
<p>190-1700nm
<p>
<p>
<P>Standard Spectral Range
<p>
<p>
<P>标准光谱范围
<p>
<p>380-1000nm
<p>
<p>380-1000nm
<p>
<p>240-860nm
<p>
<p>240-860nm
<p>
<p>240-1000nm
<p>
<p>380-1000nm
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<p>
<P>Reflection反射测量
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<P>Transmission透射测量
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<P>Optional Spectroscopic Ellipsometry可选择的光谱椭圆偏光法测量
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<P>Power Spectral Density
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<P>功率谱密度测量
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<P>Multi-angle Measurements (DPSD) 多角度测量
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<P>Both TETM Components of Index
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<P>Multi-layer thickness
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<P>多层厚度测量
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<P>Index of Refraction
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<P>折射系数测量
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<P>Extinction (absorption) Coefficient消光(吸收)系数
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<P>Energy band gap
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<P>能量带隙测量
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<P>Composition成分测量
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<P>Crystallinity晶状测量
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<P>Inhomogeneous Layers
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<P>非均匀层测量
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<P>Surface Roughness
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<P>表面粗糙度测量
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<p>    如有问题请与我们联系:0755-83342710,或:13632712541.    Email:zoupuhong@chinecnet.com
   

                                           邹普红
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