(求助) 量测元件时防止反射光以及去除辐射模态的问题
要测量Laser diode的功率时,我外接了一条光纤作为传输用途但是出现了两个问题,一个是光从功率计反射回光源
第二个问题是产生辐射模态
书上说解决的方式分别为: 1在光源偶合到光纤的端面做一斜角(防止反射光到光源)
2 涂上折射率匹配液体(防止反射光从功率计回到光纤)
3 把光纤绕成圆形数圈可以除去光纤内辐射模
想请教各位高手,是什么原理可以防止上述情形发生的?? 加个隔离器不就OK了!
加个隔离器不就OK了!
http://www.opticres.com.cn 我是很纳闷为何把光纤绕成圆形可以除去内辐射
效应 原帖由 gmmwai 于 2008-1-7 15:48 发表 static/image/common/back.gif
我是很纳闷为何把光纤绕成圆形可以除去内辐射
效应
赶问,内辐射效应是什么效应? 绕成圈的方式不可取,部分模式的光会从包层跑掉,但是对正常传输模式的光损耗也会有一定的增加. 原帖由 watermoon 于 2008-1-7 16:22 发表 static/image/common/back.gif
赶问,内辐射效应是什么效应?
就是光纤弯曲产生的辐射损耗
弯曲的光纤会使光的传输途径改变。由传输模转换为辐射模,使一部分光能渗透到包层中或穿过包层成为辐射模向外泄漏损失掉,从而产生损耗。书上说当弯曲半径大于5~10cm时,由弯曲造成的损耗可以忽略。
为何弯曲半径大于5~10cm时可以忽略?不懂 >< 可以用简单的全反射原理来解释.
飞宇光电 二楼的不厚道。
一楼用的什么规格的光纤啊?
5~10cm的弯曲不足以引起光纤弯曲损耗的剧烈增加,因为这个程度的完毕还没有达到严重破坏光纤波导结构的水平。
适当半径的弯曲,的确能虑除不稳定的光纤包层模式。
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