如何对Beam splitter 的厚度和镀膜进行探测
我是做光通信,DWDM模块的,我们的光学模块最重要的部分是Beam splitter如何对它的厚度探测,对它的镀膜进行精确测量。 DWDM有专用的测试设备........... 我也知道我们通过,通过扫描频谱,进行拟合实现的,不过精度不太高。有的东西测试两次,结果差异很大,尤其是对镀膜的测量。
有没有更精确的测试方法,请指教 学习了@@@@@@@@@@@@@@@@@@ 楼主的目的能否明确下
不明白是测试DWDM的指标还是控制DWDM的镀膜厚度? 我是指Beam splitter的镀膜反射率,我们的要求是50.00+/-0.01%,实际上同一批料,有的测试结果是49.988,有的是50.025,差异比较大。 这样恐怕得自己搭个激光测试系统了
否则精度和重复性难保证
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