如何使用干涉儀測量鏡片的光圈？ (无内容)

mahubble · 发表于 2003-5-9 08:11:00

干涉仪只能测量局部光圈，不能用来修改高低光圈，因测量时离焦量是可调节的，与光圈信息混在了一起无法分辨。

gzc423 · 发表于 2003-5-9 17:12:00

干涉儀是可以測量鏡片的高低光圈的呀

xyqy · 发表于 2003-5-9 18:07:00

下面引用由mahubble在 2003/05/09 00:11am 发表的内容：
干涉仪只能测量局部光圈，不能用来修改高低光圈，因测量时离 ...

干涉仪当然不能用来修改高低光圈，因为干涉仪只是测量用的仪器，而修改是需要用机器设备的。
不过正如楼上所说的，干涉仪是可以测量高低光圈的，不仅仅只用于测量局部光圈，可以根据测得的高低光圈对抛光设备进行相应的调整，就可以修改工件的高低光圈了。

wjf990 · 发表于 2003-5-10 01:44:00

激光平面干涉仪对环境的要求较高，若想在加工中进行检测的话，听说能用剪切干涉仪的，我没用过，单从原理上看的话，剪切干涉仪比较容易实现工作现场高精度测量哦！

大雄英 · 发表于 2003-5-18 03:40:00

反射式激光干涉儀﹐可測量光圈和局部光圈。
同時可適用現場操作。

lggkxj · 发表于 2003-5-21 05:35:00

上海元成公司代理地日本富士能的干涉仪，有一种型号可以测量光圈和局部光圈。021－62310083

大雄英 · 发表于 2003-5-21 05:36:00

有問題可與我聯絡

huww · 发表于 2008-10-10 10:30:33

干涉仪配有的软件能直接读出光圈数吗？
还是要通过显示器自己读书。

我之前没有接触过干涉仪，现在单位要购买，想多了解！