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:★一个薄膜问题★

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发表于 2004-4-25 09:24:00 | 显示全部楼层 |阅读模式

我想知道有什么简便又比较廉价的方法,实时测量和控制薄膜生长时的膜厚? (我现在是在一般的光学玻璃上镀铝膜)

先谢了!

 楼主| 发表于 2004-4-26 06:37:00 | 显示全部楼层
多谢!

我这个大概需要精确到nano级,想在现有真空镀膜机上加装,可否再给点思路?

晶控大概成本多少? 另外,我现在镀的是铝膜,可要是改镀别的贵重点的东西,那测个蒸法速率就费老钱啦,^_* 而且蒸发速率也受环境影响啊.....

发表于 2004-4-25 22:21:00 | 显示全部楼层

好像你不打算采用晶控. 我觉得你是不是可以按你设定的参数沉积薄膜,然后用台阶仪测试一下,这样可以知道大概的蒸法速率.但这也不是实时测量了.

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发表于 2004-4-25 22:47:00 | 显示全部楼层
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发表于 2004-4-26 04:59:00 | 显示全部楼层

用眼睛看不透光就OK了!

发表于 2004-4-26 06:01:00 | 显示全部楼层
这要看你用什么设备,如果设备不行,就没有廉价而简便的方法。
发表于 2004-4-27 21:09:00 | 显示全部楼层

回复:(Oracle)多谢! 我这个大概需要精确到nano级...

何谓nano?一般铝膜用目视源的亮度即可,要求高的做增强铝膜可解决。
发表于 2004-5-8 00:17:00 | 显示全部楼层
精确到nano级用时间控制即可,不一定要晶控。
发表于 2004-5-8 19:23:00 | 显示全部楼层

陈旧设备的话就没法或者不容易控制厚度了

可以先求出来沉积速率

发表于 2004-5-10 17:39:00 | 显示全部楼层

镀一次之后,测量一下,然后用时间控制应该足够了。

发表于 2004-5-11 00:16:00 | 显示全部楼层
用光谱卡  怎样??
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