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发表于 2004-5-7 21:18:00 | 显示全部楼层 |阅读模式

石英晶体在真空镀膜测厚技术中的应用研究-PDF文件,用acrobe打开

O9fOQUvq.pdf (76.17 KB, 下载次数: 206)

[此贴子已经被作者于2004-6-6 22:51:44编辑过]
发表于 2004-5-8 07:03:00 | 显示全部楼层
d多谢!
发表于 2004-5-8 18:05:00 | 显示全部楼层
nnn
发表于 2004-5-17 22:32:00 | 显示全部楼层
是啊 唉 ,发帖少,看不了
发表于 2004-5-17 16:23:00 | 显示全部楼层
唉 ,发帖少,看不了
头像被屏蔽
发表于 2004-5-18 05:28:00 | 显示全部楼层
提示: 作者被禁止或删除 内容自动屏蔽
 楼主| 发表于 2004-5-18 16:17:00 | 显示全部楼层
这是我第一次帖文章,如果你注意我后面的帖文,就会发现我已经改正错误拉,还是谢谢指正
发表于 2004-5-18 17:10:00 | 显示全部楼层
太少了
发表于 2004-5-20 01:46:00 | 显示全部楼层
谢谢
发表于 2004-5-25 06:51:00 | 显示全部楼层
谢谢,
发表于 2004-5-25 16:11:00 | 显示全部楼层

看过的了

发表于 2004-5-25 20:43:00 | 显示全部楼层

摘要:基于石英晶体振荡原理,提出了在真空状态下的一种超薄型镀膜测厚方法,介绍了该项测厚技术的基本电 气原理,研究了测厚过程中石英晶体材料的选取方法和组织实施原则*石英晶体应具有固定的技术参数,并被安放 于真空舱内的正确位置*密闭的石英晶体探头通过同轴电缆与外部振荡器相连,振荡器输出的频率信号由微机进 行处理,将频率信号转化为厚度值。

照顾一下新来的兄弟姐妹,我将摘要拷贝出来,楼主不会有意见吧。

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