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[原创]弱弱的问:关于均匀性课题的问题

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发表于 2004-5-24 20:02:00 | 显示全部楼层 |阅读模式

各位好

我现在的课题就是光学薄膜的均匀性问题,可是到了现在都快一年了,也就发了一篇关于均匀性的文章,而且现在针对光学薄膜的均匀性进行修正的时候,多是靠经验,但是发文章比较困难,因为均匀性和工艺联系很紧密,但是理论上的支持不够;

看了很多的文献,国外的和国内的,觉得这方面的好像不是很多,而且现在做的很多东西国外几十年前都已经做过了,如果把这个问题作为课题来研究的话,请问各位大侠:应该从那方面着手呢?最好还能和工艺联系的紧密一些,这是老板的要求,也就是说:最好能用到工艺上!

请各位大侠指教!

 楼主| 发表于 2004-5-24 20:21:00 | 显示全部楼层

PS:各位在处理均匀性的时候,是按照什么标准来表示均匀性呢?中心波长??还是直接测出物理厚度呢?

发表于 2004-5-25 00:09:00 | 显示全部楼层
都行,你觉的方便就行
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发表于 2004-5-25 01:39:00 | 显示全部楼层
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 楼主| 发表于 2004-5-25 03:02:00 | 显示全部楼层

是啊你怎么知道的?

你也是哈哈

发表于 2004-5-27 21:02:00 | 显示全部楼层

这个比较难做,我也在考虑,当然我们的行业可能更简单些

 楼主| 发表于 2004-5-28 17:31:00 | 显示全部楼层
以下是引用天涯孤星在2004-5-27 13:02:22的发言:

这个比较难做,我也在考虑,当然我们的行业可能更简单些

是啊 理论上的东西太少

很多理论又不具备实用价值

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发表于 2004-5-28 17:39:00 | 显示全部楼层
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 楼主| 发表于 2004-6-1 00:38:00 | 显示全部楼层

成都的吧?呵呵

发表于 2004-6-5 22:40:00 | 显示全部楼层
  均匀性一般用不同位置处的膜厚的相对偏差来表示,均匀性一般涉及到设备的几何配置、蒸发源的发射特性与蒸发稳定性,这可以从理论上来计算的,但有时设备还要考虑膜料的入射角,温度均匀性的影响,离子源均匀性的影响,从而带来的折射率的均匀性等。均匀性在一些高要求的膜的制造中,作用非常关键。这项课题需要多年的经验积累来做,厚积薄发。
 楼主| 发表于 2004-6-7 23:45:00 | 显示全部楼层

楼上说的有道理,但是你也知道,里面有很多的随机情况。

不论是设备的几何配置,蒸发源的发射特性与蒸发稳定性,虽然说可以从理论上进行计算,但是在实际的镀膜过程中,每一次的厚度分布都是有差别的,很多时候在计算完几何配置来优化均匀性以后,就只能用挡板等方法去修正了,而且,Willey的书上也曾经提到,关于挡板的修正,理论上的东西实际很难提供什么帮助,关键是经验。

同意楼上所说的厚积薄发,确实需要多年的积累。

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