光电工程师社区»光电社区 › 光电理论及应用技术 › 光学镀膜技术及膜系设计 › [分享]基于光譜法的晶體厚度測量
返回列表 发新帖
查看: 2287|回复: 5

[分享]基于光譜法的晶體厚度測量

[复制链接]
发表于 2004-7-21 20:07:00 | 显示全部楼层 |阅读模式
2Nd5pyJH.pdf (130.45 KB, 下载次数: 57)
好東西呀﹗
回复

使用道具 举报

发表于 2004-7-26 04:06:00 | 显示全部楼层
謝謝
回复 支持 反对

使用道具 举报

发表于 2004-7-23 00:31:00 | 显示全部楼层
ThS
回复 支持 反对

使用道具 举报

ttl
发表于 2004-7-23 17:23:00 | 显示全部楼层
对晶体光轴要求较严，实用受限制较大
回复 支持 反对

使用道具 举报

mzxnhgs
发表于 2004-7-26 16:27:00 | 显示全部楼层
好，顶
回复 支持 反对

使用道具 举报

Leesnow
发表于 2004-7-28 18:53:00 | 显示全部楼层
可惜使用价值确实不高!
回复 支持 反对

使用道具 举报

返回列表 发新帖
高级模式
B Color Image Link Quote Code Smilies
您需要登录后才可以回帖 登录 | 立即注册

本版积分规则

关注公众号
手机版|搜索|光电工程师社区

相关侵权、举报、投诉及建议等，请发 E-mail：admin@discuz.vip

Powered by Discuz! X5.0 Licensed © 2001-2026 Discuz! Team.|鄂ICP备17021725号-1

在本版发帖
关注公众号
QQ客服返回顶部