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[讨论] 关于何为直接光控和间接光控

 火... [复制链接]
发表于 2011-12-16 19:25:29 | 显示全部楼层 |阅读模式
如题   求解答   谢了  
发表于 2011-12-16 22:23:36 | 显示全部楼层
学习,没用过光控
发表于 2011-12-19 08:39:58 | 显示全部楼层
直接监控是直接测试被镀件表面的光信号变化(leybold设备采用),而间接监控是监控同炉次的一个监控片表面镀膜过程的光信号变化(目前大部分机器采用)
发表于 2011-12-19 11:03:05 | 显示全部楼层
谢谢解释。我现在用的就是间接监控。按我测量的结果,监控片上的参数,不能直接作为设计依据。那么,tooling值我能直接用样片和设计值进行计算吗?
设计值与监控片的膜有差异,而监控片的膜与样片的又有差异。应该如何计算呢?
发表于 2011-12-19 21:25:11 | 显示全部楼层
Jimmy_tang 发表于 2011-12-19 11:03
谢谢解释。我现在用的就是间接监控。按我测量的结果,监控片上的参数,不能直接作为设计依据。那么,toolin ...

恩,我也有这样的疑问。不知你现在解决没有,我还是搞不明白
发表于 2011-12-20 09:17:38 | 显示全部楼层
缘睐汝痴 发表于 2011-12-19 21:25
恩,我也有这样的疑问。不知你现在解决没有,我还是搞不明白

自然是没有的。我现在是在磕磕绊绊地摸石头过河啊。
 楼主| 发表于 2011-12-20 20:21:42 | 显示全部楼层
Jimmy_tang 发表于 2011-12-20 09:17
自然是没有的。我现在是在磕磕绊绊地摸石头过河啊。

大家多交流啊  朋友的机器是 那里的  啊  
发表于 2011-12-20 22:35:25 | 显示全部楼层
我也来学习学习
发表于 2011-12-21 13:28:07 | 显示全部楼层
国产机子啦,公司在昆山。
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