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[讨论] 镀ITO的时候,出现很多whisker(细须, 须晶)

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发表于 2012-5-21 14:37:30 | 显示全部楼层 |阅读模式
最近镀ITO的时候, 发现在wafer上有很多whisker(细须, 须晶), 但同时作为厚度验证的硅衬底上却没有。 所有参数都和以前一样, 不知道是什么问题? 哪位专家有经验?多谢了。
发表于 2012-5-25 10:17:35 | 显示全部楼层
镀在啥基片上。是用单一的膜料吗
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发表于 2012-9-6 22:34:17 | 显示全部楼层
应该是基板上有参杂形成的缺陷,
增加通氧量试试,或者减少镀率
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发表于 2012-9-7 11:17:06 | 显示全部楼层
路ˋ過學習
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发表于 2014-1-16 12:50:50 | 显示全部楼层
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发表于 2014-5-19 17:48:13 | 显示全部楼层
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