大家好呀,我是做薄膜分析仪的,请问薄膜分析仪与椭偏仪有什么区别呀,
我只知道薄膜分析仪.能测SCI FilmTek TM Systems(薄膜测量仪器测试功能说明)可测量:
Index of Refraction折射指数(at 2μm thickness)
Thickness Measurement Range 厚度测量范围
Maximum Spectral Range 最大光谱范围
Standard Spectral Range标准光谱范围
Reflection反射测量
Transmission透射测量
Optional Spectroscopic Ellipsometry可选择的光谱椭圆偏光法测量
Power Spectral Density功率谱密度测量
Multi-angle Measurements (DPSD) 多角度测量
Both TE & TM Components of Index
Multi-layer thickness多层厚度测量
Index of Refraction折射系数测量
Extinction (absorption) Coefficient消光(吸收)系数
Energy band gap能量带隙测量
Composition成分测量
Crystallinity晶状测量
Inhomogeneous Layers非均匀层测量
Surface Roughness表面粗糙度测量