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还是要看什么样的设备
想办法找到附近几层的晶振参考,或者移动单色仪走Peak(当然设备Peak能力差就免了)。
最重要的是设计时避免超薄层就行了,优化决不是交给计算机就OK了
谢谢wazxq老大的意见!
由于厚度偏薄,一般镀膜时间都只有在30秒前后,而这段时间蒸发的速率是渐变的,所以我认为参考其他较厚层的厚度是非常不准确的。
走Peak点本来是个很好的方法,但Peak点控制方法一般都是通过预判极值的方法,我估计在这么短时间内用这种方法,可能会经常的误判!(研究可用,但生产不可)
从设计上避免是根本,但鱼和熊掌不可兼得啊!
wazxq大哥:
"移动单色仪走Peak"是指用单色仪通过判断所镀膜层的极值点来得到膜层的光学厚度?
"移动单色仪走Peak",,,,膜层太薄了,走Peak不合适!
Peak不一定刚好用Peak,可以过点点,
多层膜容易避开的,AR一般也可以,有时候会避不开,要我的话比较相信光控
7楼同行你的理解是对的,当然单色仪不能太差,至少是步进电机控制的那种吧
避开是关键,能够增加膜系容差
很佩服Hacker的技术啊,,向您学学,天天向上!
我镀制过7nm的。用我们的宽光谱光控,整体看400-1000nm的光谱曲线,实际镀制曲线与理论重合即可,还是比较容易判断的。
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