若做出的IR膜测光谱时在某波长处有ripple

fawang · 发表于 2008-10-13 17:54:52

若做出的IR膜测光谱时在某波长处有ripple,可在测光谱时调整角度测，调整15度或45度以判断是高N还是低N出了问题，镀多还是镀少？请问有这回事吗？怎样判断呀？

jhxxmlhk · 发表于 2008-10-13 18:00:52

15度测试透射率，比较和0度的时候通带透射率的变化，再用 TFC模拟下Group就知道了。

fawang · 发表于 2008-10-13 18:26:22

哈哈，猜也是这样，自己也用TFC模拟过，不过不知是自己设计膜系的原因，结果ripple几乎是在透射区的短波边缘，听说长波段也应该有的，实际没做过IR工艺处理，还没遇到这样的问题呢，所以还不清楚哈哈。大侠们谁做IR膜的，可以谈谈自己的看法嘛！

jhxxmlhk · 发表于 2008-10-14 09:02:51

做了你就知道了。