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发表于 2008-12-1 16:38:53
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北京奥博泰公司提供专门测平面、球面反射的设备，也有测量球面头射的设备，简单的组装镜头也可以测试透过率。精度方面与奥淋巴斯等设备对比，数据可靠，价格比日本设备便宜很多。
FS4000系列
快速分光光度计
 测量速度快
 能够测量球面反射比
 薄膜颜色测量
 测试精度高
 显示目标与实测光谱曲线
 透反射率数据统计
FS4000系列快速分光光度计是一个适合工厂使用的分光光度计系统，能够测量光学元件的透、反射光谱，包括平面光学元件（如高反镜、滤光片、分光镜等），球面光学元件（如凸透镜、凹透镜）。FS4000系列产品包括FS4100透射测量系统与FS4200反射测量系统。该系列产品在国内已有十多家厂商使用，受到客户的一致好评及认可。
设备特点
 测量速度快，适合工厂及研究单位进行产品全检；
 自主研发的测试软件，全中文界面，易于操作；
 设备采用先进光学元器件，无机械扫描结构，可靠性高，寿命长；
 哑元技术，低频快门技术，有效降低躁声及减少信号飘移；
 采用长寿命光源，1500小时寿命，一般能使用6个月。
重要功能
 颜色测量：通过测试薄膜的透反射率光谱，计算得出薄膜的颜色参数及直观颜色
 目标曲线：将测试元件的透/反射率指标输入软件，直接能够对比实际测试曲线与目标曲线，方便评定产品合格率；
 数据统计：包括详细的透反射比数据，以及最大值、最小值所对应的波长位置，便于分析；
FS4100透射测量系统
技术指标：
 光谱范围：400 nm～850nm（可扩展至1000nm）
 测量范围：T：0～100%，
 分辨率：优于 2nm
 稳定度：< 0.2% @100%； (20分钟预热)
 测量速度: 0.2～1 秒/次（平均值）
特点：
 采用积分球结构，使测量更加准确
 测试元件口径范围大 5----200mm
 能够测量分析薄膜均匀性
 采用优化光学系统，测量数据科学可靠
FS4200反射测量系统
技术指标：
 光谱范围：400 nm～850nm（可扩展至1000nm）
 测量范围：R：0～100%
 分辨率：优于 2nm
 稳定度：< 0.1% @4%； (20分钟预热)
 测量速度: 0.2～1 秒/次（平均值） 特点
 能够测量球面元件的反射率光谱，包括凹透镜，凸透镜等
 采用进口耦合石英光纤，保证测试精度准确
 高稳压电源及精密光源提高了长时间测试的精度，减小了温度漂移对设备的影响
价格优惠，有需要可以联系我，13693572892，xlli@goldway.com.cn |
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