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如何使用干涉儀測量鏡片的光圈? (无内容)

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发表于 2003-5-8 18:49:00 | 显示全部楼层 |阅读模式
发表于 2003-5-9 08:11:00 | 显示全部楼层

如何使用干涉儀測量鏡片的光圈? (无内容)

干涉仪只能测量局部光圈,不能用来修改高低光圈,因测量时离焦量是可调节的,与光圈信息混在了一起无法分辨。
 楼主| 发表于 2003-5-9 17:12:00 | 显示全部楼层

如何使用干涉儀測量鏡片的光圈? (无内容)

干涉儀是可以測量鏡片的高低光圈的呀
发表于 2003-5-9 18:07:00 | 显示全部楼层

如何使用干涉儀測量鏡片的光圈? (无内容)

下面引用由mahubble2003/05/09 00:11am 发表的内容:
干涉仪只能测量局部光圈,不能用来修改高低光圈,因测量时离 ...
干涉仪当然不能用来修改高低光圈,因为干涉仪只是测量用的仪器,而修改是需要用机器设备的。
不过正如楼上所说的,干涉仪是可以测量高低光圈的,不仅仅只用于测量局部光圈,可以根据测得的高低光圈对抛光设备进行相应的调整,就可以修改工件的高低光圈了。
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