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本帖最后由 gxf839 于 2010-9-18 09:09 编辑
TE_ID测试系统说明.pdf
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1. 系统软件支持再装配性，也就是说系统的公司徽标、系统显示的名称可以由用户来
重新装配；
2. 系统支持批量测试，也支持单只测试；
3. 系统测试速度高于 1 只/秒；
4. 系统最大驱动电流达 100mA，驱动精度达 0.5%；
5. 光功率测试范围 0.01——10mW，测试精度达 5%，稳定度达到 2%；
6. 背光电流测试范围 50——1500uA；
7. 系统支持最多达 7 个温度点的 TE 测试；
8. 系统可以多个器件逻辑单元连接，每个逻辑单元最多一次可以接插 64 只器件；系
统支持批量测试、点测、单只测试；
9. 系统支持 4个波长的测试，支持其他波长的扩展；
10. 系统支持相同器件多温度曲线的对比描绘。
如有需求，电话：13588509694。Email: gxf839@163.com, QQ:16641494 |
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