seeyou1107 发表于 2004-5-7 21:18:00

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<P>石英晶体在真空镀膜测厚技术中的应用研究－PDF文件，用acrobe打开</P>
<P>
</P>
[此贴子已经被作者于2004-6-6 22:51:44编辑过]

gb936 发表于 2004-5-8 07:03:00

d多谢！

zhxjxxx168 发表于 2004-5-8 18:05:00

nnn

yaoping9804 发表于 2004-5-17 22:32:00

<TABLE fixed; WORD-BREAK: break-all" width="90%" border=0><TR><TD 9pt; LINE-HEIGHT: 12pt" width="100%"><img src="http://bbs.oecr.com/Skins/Default/topicface/face1.gif"> 是啊<B></B>
唉 ，发帖少，看不了</TD></TR></TABLE>

龙江 发表于 2004-5-17 16:23:00

唉 ，发帖少，看不了

yin99 发表于 2004-5-18 05:28:00

seeyou1107 发表于 2004-5-18 16:17:00

这是我第一次帖文章，如果你注意我后面的帖文，就会发现我已经改正错误拉，还是谢谢指正

zhoucheng 发表于 2004-5-18 17:10:00

太少了

nqh1978 发表于 2004-5-20 01:46:00

谢谢

阿俊 发表于 2004-5-25 06:51:00

谢谢,

mzxnhgs 发表于 2004-5-25 16:11:00

<P>看过的了</P>

likeoe 发表于 2004-5-25 20:43:00

<P>摘要：基于石英晶体振荡原理，提出了在真空状态下的一种超薄型镀膜测厚方法，介绍了该项测厚技术的基本电
气原理，研究了测厚过程中石英晶体材料的选取方法和组织实施原则*石英晶体应具有固定的技术参数，并被安放
于真空舱内的正确位置*密闭的石英晶体探头通过同轴电缆与外部振荡器相连，振荡器输出的频率信号由微机进
行处理，将频率信号转化为厚度值。</P><P>照顾一下新来的兄弟姐妹，我将摘要拷贝出来，楼主不会有意见吧。</P>
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