[原创]弱弱的问:关于均匀性课题的问题
<P>各位好</P><P>我现在的课题就是光学薄膜的均匀性问题,可是到了现在都快一年了,也就发了一篇关于均匀性的文章,而且现在针对光学薄膜的均匀性进行修正的时候,多是靠经验,但是发文章比较困难,因为均匀性和工艺联系很紧密,但是理论上的支持不够;</P>
<P>看了很多的文献,国外的和国内的,觉得这方面的好像不是很多,而且现在做的很多东西国外几十年前都已经做过了,如果把这个问题作为课题来研究的话,请问各位大侠:应该从那方面着手呢?最好还能和工艺联系的紧密一些,这是老板的要求,也就是说:最好能用到工艺上!</P>
<P>请各位大侠指教!</P> <P>PS:各位在处理均匀性的时候,是按照什么标准来表示均匀性呢?中心波长??还是直接测出物理厚度呢?</P> 都行,你觉的方便就行 <P>是啊你怎么知道的?</P><P>你也是哈哈</P> <P>这个比较难做,我也在考虑,当然我们的行业可能更简单些</P> <DIV class=quote><B>以下是引用<I>天涯孤星</I>在2004-5-27 13:02:22的发言:</B>
<P>这个比较难做,我也在考虑,当然我们的行业可能更简单些</P></DIV>
<P>是啊 理论上的东西太少
<P>很多理论又不具备实用价值</P> <P>成都的吧?呵呵</P> 均匀性一般用不同位置处的膜厚的相对偏差来表示,均匀性一般涉及到设备的几何配置、蒸发源的发射特性与蒸发稳定性,这可以从理论上来计算的,但有时设备还要考虑膜料的入射角,温度均匀性的影响,离子源均匀性的影响,从而带来的折射率的均匀性等。均匀性在一些高要求的膜的制造中,作用非常关键。这项课题需要多年的经验积累来做,厚积薄发。 <P>楼上说的有道理,但是你也知道,里面有很多的随机情况。</P><P>不论是设备的几何配置,蒸发源的发射特性与蒸发稳定性,虽然说可以从理论上进行计算,但是在实际的镀膜过程中,每一次的厚度分布都是有差别的,很多时候在计算完几何配置来优化均匀性以后,就只能用挡板等方法去修正了,而且,Willey的书上也曾经提到,关于挡板的修正,理论上的东西实际很难提供什么帮助,关键是经验。</P><P>同意楼上所说的厚积薄发,确实需要多年的积累。</P>
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