www_awei 发表于 2011-7-26 17:28:52

关于PLC器件 1550nm点测试不过，1310测试合格的原因？

各位，小弟在分析PLC器件失效原因时，遇到了很多产品1310测试合格，而1550IL不合格，这些器件都是没有连接器的裸纤器件，测试方法采用熔接测试，测试系统和设备都确认过没有任何问题。我们的器件耦合时采用1310nm波长监控，就发现测试时1550有很多不合格，最近我们采用1550监控，又发现1310有好多不合格。还请高手指点一下，是我们的工艺有问题，还是芯片自身WDL不够好，我个人觉得芯片WDL应该不会这么差吧。主要想知道在PLC耦合工艺时，有什么原因导致这种情况？希望大家了解PLC工艺的来讨论一下，

pany132 发表于 2011-7-27 00:08:32

“我们的器件耦合时采用1310nm波长监控，就发现测试时1550有很多不合格，最近我们采用1550监控，又发现1310有好多不合格”
你们可以在线测试啊。首先确定在线测试的结果是否准确。耦合时准备2套光源，2个光功率计探头，来测试。

fiber8842 发表于 2011-7-27 11:57:19

不知道你们用的哪家公司的芯片，fira?可以换一家公司的芯片试试，个人觉得芯片存在问题可能性较大。

phwangshadow 发表于 2011-9-5 10:38:36

两种波长自身衰减就有差别，对不同的光纤，一般测试对应的波长用对应的光纤

绵阳超光 发表于 2011-9-9 09:30:00

用我们公司的设备不管你测几个波长 都只熔接一次详情请联系我 13981191821QQ：1793134731

绵阳超光 发表于 2011-9-9 09:30:29

用我们公司的设备不管你测几个波长 都只熔接一次详情请联系我   贾先生 13981191821QQ：1793134731

zzzat 发表于 2011-9-9 13:41:21

1310和1550在耦合时就采用相对应的波长你用1310的波长耦合就只能耦合1310的1550的一样

夜行者之炼狱 发表于 2011-9-14 22:49:14

{:6_153:}

wayne1223 发表于 2011-9-20 09:14:14

你好，不知道你们单位的问题现在解决了没？
你所说的是不是在调心对光的时候发生的问题还是，封装后，后到光学检测时发现的问题啊？

www_awei 发表于 2011-9-20 11:29:39

现在好了一些，是封装后检测发现这个问题的，对光时没有监控1550。

wayne1223 发表于 2011-9-21 08:24:42

你好，那你知道你们那现在好一点的原因吗？
怎么分析的，对策又是怎么样，对策后的效果怎么去验证的？

我的建议：在PLC对光的过程中，其实需要1310/1550双波段监控的。
你们那对光是自动对光的，还是手动对光的啊？
如果需要沟通，请联系我，一起探讨探讨。
QQ：943956952（注明：PLC光分路器）

www_awei 发表于 2011-9-26 14:19:22

经过近两个月的实验观察，总结，出现这种现象有以下原因：
1.芯片问题；芯片在1310和1550这两处，有WDL存在，即在这两处IL会有所差别，但一般晶圆工艺做得好一点的话，这两处IL差别就比较小一般在0.2左右，这时你只用一个波长监控，也不会出现什么问题。但有些厂家晶圆质量不太好时，就会表现在1310和1550两处IL差别在0.4到0.5dB;这个时候你若还是用一个波长来监控，则会出现如帖子所述的单点IL不合格现象。
2.在对光耦合过程中1310和1550间有时确实存在一个平衡点问题，我们在试验中发现有些芯片在1310处调到IL最小时，1550处IL却偏大，反之亦然；而把1310 IL调到一个适当值时，1550IL和1310IL都比较接近，且小于SPEC

得出以上结论后，我现在把所有对光机台都改为双波长监控，现在出现单点IL不过的现象少多了

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