请问下下反射光量值计算的问题
最近做一个5层的膜系,MGF2和H4,前3层都比较少,所以每层用一个比较片,请问如果只用一位比较片就镀完光量值该如何计算呢?谢谢! 呵呵!俺只知道有的膜系设计软件如老麦的可一计算,但是你这个看起来应该是个非规整膜系,要用一片监控片监控多层恐怕不容易实现! M、T都可以计算,但你有这么好的光控吗?如果有,再谈怎么算。 厚度太薄的话光量没有极值点,根本控制不准确的.人为判断停镀点是很难的.折射率变了后光量值就变了,人脑可计算不了那么快! 就是的,用光控监控很薄的膜层本来就很困难,还想一片监控片监控几层,谈何容易呀! 对于薄的膜,每层用一片和一片多多层没多大区别 原帖由 jhxxmlhk 于 2008-11-3 16:57 发表 static/image/common/back.gif厚度太薄的话光量没有极值点,根本控制不准确的.人为判断停镀点是很难的.折射率变了后光量值就变了,人脑可计算不了那么快!
其实晶振也是一样的道理,当我们试镀成功后为什么可以镀产品?所以我们得重新编写光控程序,用现有的是不容易控制,试镀比较多,但还是有成功的案例。
我晕了
我们用的是下反射,经常光量走的幅度都不一样,有6位比较片的我们都是每层用一位的,关键是有台设备只有一位比较片,我看人家也用一位做过,但他们用的是上反射的,他们有个软件可以直接算上反射的 哈哈!你们是什么时候的设备呀?只有一位比较片?应该退役了吧!不行把光控改造一下呀!让您用这样的机器做多层膜,确实有些难为您了现在公司没啥钱撒
最近活又少,老南光机了,又舍不得花钱改造呀 要是做出来!老兄你可以跳槽了往哪跳?
现在这么多厂都没活干呢,我想到一个办法,准备过两天没活干了开始试,哈哈
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