烘烤对晶控的干扰问题
现有一国产1100机器,行星架结构,故厂家把烘烤设为下烘烤式,溴(碘)钨灯加热方式。现在发现一很大问题,当烘烤灯工作,调功器工作时,对晶控影响很大,表现在速率方面就是沉积速率不稳定,上下波动挺大,整个速率曲线似正弦曲线一样。
如停掉烘烤,则沉积速率变的很稳定。
此问题已经困扰一个多月,厂家好像也是束手无策了。(加滤波器,好像还起了反作用)
不知大家有没有遇到相似情形,又是如何解决的
时间太久了还不见好,实在心急,还请各位出手相救啊。 我们的也有这个问题,但并不严重 上下烘烤方式都有这个问题,晶振本身要改进。
现在的晶振越来越被垄断,后市可能很少改动了 我用的是Hanil 1200的,配置和你说的一样,但是速率很稳定啊,呵呵
要么是国产机器烂,要么是你没使用好。;P 大家不必恐慌,晶振片质量要保证.我是专业生产晶振片厂家.金银合金都有.电话:15068338776 夏经理 我用的是Hanil 1200的,配置和你说的一样,但是速率很稳定啊,呵呵
要么是国产机器烂,要么是你没使用好。;P
jhxxmlhk 发表于 2009-4-30 09:55 static/image/common/back.gif
问下这位朋友,360的PID要求高吗,通过调节PID能否改善之?
按360使用上和前期用的结果看,PID好像影响达不到这么大
不知各位还有其他见解没有? 我用的配置和你说的一样,用的也是360,速率也很稳定,通过调节PID确实能改善。:) 1# ferry
晶控片用好的30元的与10元相差很多
加大烘烤功率,调整烘烤调功器pid,降低烘烤温度。行星盘太大了周期性影响晶控片。烘烤灯位置也会周期性影响晶控片。 来学习学习,呵呵:shutup: 晶振受温度影响了............................... 你是用晶控系统控制膜层的厚度的吗?晶振片受温度的影响,速率会改变的。晶控系统你主要的配置是什么,你是用MDC360C膜厚控制仪吗? 你是用晶控系统控制膜层的厚度的吗?晶振片受温度的影响,速率会改变的。晶控系统你主要的配置是什么,你是用MDC360C膜厚控制仪吗?
milantree 发表于 2009-5-13 09:32 static/image/common/back.gif
晶控是用来控制膜厚,MDC360C,双探头结构(sensor1和sensor2)。控制左右电子枪和阻蒸发源(soure1,2,和6)。
烘烤的PID都进行过调整,但只要电压变化在超过10V以上时,就会对晶控产生干扰(电子枪和离子源发热,烘烤电压会停止,但镀制过程中,温度达不到设定值后,又会开启,此时便开始干扰晶控)